GB/T 17626.29-2006電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 直流電源輸入端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗為GB/T 17626 電磁兼容 試驗和測量技術(shù)系列標準的第二十九部分。
　　GB/T 17626.29-2006電磁兼容 試驗和測量技術(shù) 直流電源輸入端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗等同采用IEC 61000-4-29：2000《電磁兼容 第4部分：試驗和測量技術(shù) 第29部分：直流電源輸入端口電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗》。 
　　GB/T 17626的本部分規(guī)定了在電氣、電子設備的直流電源輸入端口對電壓暫降、短時中斷和電壓變化的抗擾度試驗方法。
　　本部分適用于由外部直流網(wǎng)絡供電的設備的低電壓直流電源端口。
　　本部分的目的是建立一種評價直流電氣、電子設備在經(jīng)受電壓暫降、短時中斷和電壓變化時的抗擾度的通用準則。
　　本部分規(guī)定了：
　　——試驗等級的范圍；
　　——試驗發(fā)生器；
　　——試驗布置；
　　——試驗程序。
　　本部分的試驗適用于電氣和電子設備或系統(tǒng)。如果EUT（受試設備）的額定功率大于第6章要求的試驗發(fā)生器的容量，也同樣適用于模塊或子系統(tǒng)。
　　直流電源輸入端口的紋波不包括在本部分中，它們包括在GB/T 17626.17-2005中。
　　本部分不適用于特殊的裝置或系統(tǒng)。其主要目的是對有關(guān)的專業(yè)標準化技術(shù)委員會提供通用的和基礎的標準。這些標準會（或用戶和設備制造商）仍有責任選擇適合其設備的試驗和嚴酷度等級。